En nombre de Agilent Technologies me complace invitarle al Seminario “Caracterización Dieléctrica de Materiales y Soluciones en Medida de Impedancia” que tendrá lugar durante los meses de Febrero y Marzo en las siguientes ciudades: |
Burgos (4 de Febrero de 2014): |
Valladolid (5 de Febrero de 2014): |
Facultad de Ciencias Universidad de Burgos Plaza Misael Bañuelos García, s/n |
E.T.S.I. de Telecomunicación |
Madrid (6 de Febrero de 2014): |
Puerto Real, Cádiz (11 de Febrero de 2014): |
E.U.I.T. de Telecomunicación |
Facultad de Ciencias Naúticas Universidad de Cádiz Campus Río San Pedro |
Córdoba (12 de Febrero de 2014): |
Ciudad Real (13 de Febrero de 2014): |
Facultad de Ciencias – Departamento de Física Universidad de Córdoba Campus de Rabanales – Ed. C-2 (Albert Einstein) |
E.T.S.I. Industriales Universidad de Castilla La Mancha Campus Universitario de Ciudad Real
|
Barcelona (18 de Febrero de 2014): |
Tarragona (19 de Febrero de 2014): |
Facultat de Física Universitat de Barcelona Martí i Franquès, 1
|
E.T.S. d’Enginyeria Universitat Rovira i Virgili Campus Sescelades – Sant Pere i Sant Pau
|
Santander (25 de Febrero de 2014): |
Madrid (26 de Febrero de 2014): |
E.T.S.I.I. y Telecomunicación Universidad de Cantabria Plaza de la Ciencia – Avda. de los Castros, s/n
|
Facultad de Físicas Universidad Complutense de Madrid Avda. Complutense, s/n – Ciudad Universitaria
|
Alcoy, Alicante (27 de Febrero de 2014): |
Murcia (28 de Febrero de 2014): |
Universitat Politècnica de València Plaça Ferrándiz i Carbonell, s/n Campus de Alcoy
|
Facultad de Químicas
|
Gijón (4 de Marzo de 2014): |
Santiago de Compostela (7 de Marzo de 2014): |
Escuela Politécnica Superior Universidad de Oviedo Edif. Polivalente de Viesques – Campus de Gijón
|
Hotel NH Obradoiro Avenida do Burgo das Nacións, s/n
|
Las tendencias actuales de la electrónica obligan a los profesionales a aprovechar al máximo el limitado presupuesto para medida, optimizando el rendimiento de la instrumentación. El conocimiento de las soluciones de medida existentes y las capacidades de las mismas resulta indispensable para acortar el ciclo de diseño/desarrollo y pruebas, así como para la obtención de resultados precisos y exitosos.
En este seminario gratuito abordaremos la medida de impedancia en materiales y dispositivos, desde sus fundamentos hasta las configuraciones avanzadas; explicando diferentes técnicas de medida de impedancia en materiales y dispositivos, así como las diferencias entre ellas y los campos de aplicación. Detallando los pros y contras de las diferentes conexiones entre el equipo de medida y el dispositivo bajo prueba y cómo realizar una calibración y compensación adecuadas para obtener resultados precisos.
También explicaremos cómo realizar la caracterización dieléctrica de un material, diferentes técnicas de medida disponibles con los diferentes aspectos prácticos de las mismas y cómo seleccionar la más adecuada en cada momento en función de las características del material a medir. Mostraremos cómo utilizar un analizador vectorial de redes portable de última generación en caracterización dieléctrica de materiales, permitiéndonos no sólo realizar medidas precisas allá donde se necesite sino también sacar el máximo rendimiento a los ajustados presupuestos actuales. |
La agenda del seminario será la siguiente: |
Horario |
Presentación |
09:00 – 09:10 |
Presentación y Bienvenida |
09:10 – 10:45 |
Retos y Soluciones en Medidas de Impedancia |
10:45 – 11:15 |
Café |
11:15 – 12:45 |
Métodos de Caracterización Dieléctrica de Materiales |
12:45 – 13:30 |
Aspectos Prácticos de Medida de Materiales |
La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado. Puede inscribirse a través de la página web, llamando al 91 631 33 00, o si lo prefiere envíe un mensaje con sus datos de contacto a contactcenter_spain@agilent.com, especificando el día y lugar al que desea asistir. |