Yokogawa Test & Measurement Corporation anuncia el lanzamiento de su reflectómetro de alta resolución AQ7420. Utilizando la tecnología OLCR (optical low-coherence reflectometry – reflectometría óptica de baja coherencia), el AQ7420 es ideal para el análisis de la estructura interna de módulos ópticos y la visualización de microfisuras en conectores ópticos. Ofrece una resolución espacial de 40 µm y una excepcional sensibilidad de medición de la reflexión trasera de hasta -100 dB o menor, sin ruidos espurios. Combinado con la unidad de cabezal de sensor opcional, los usuarios pueden medir la pérdida de inserción simultáneamente con la reflexión trasera, lo que convierte al AQ7420 en un reflectómetro muy eficaz y rentable para aplicaciones del mercado óptico.
Reflectómetro de alta resolución AQ7420
Antecedentes de Desarrollo
Yokogawa Test & Measurement Corporation escucha constantemente los comentarios de los clientes y las tendencias del sector, desarrollando nuevas innovaciones en línea con la evolución del mercado. Al investigar la fotónica de silicio y producir conectores de fibra óptica, la empresa se dio cuenta de varias demandas emergentes que no podían satisfacerse con las soluciones existentes en el mercado. Entre ellas se incluían: una mayor reducción del ruido espurio; la medición simultánea de la reflexión trasera y la pérdida por inserción; una mayor estabilidad de las formas de onda medidas; y un tiempo de medición más rápido. El objetivo era desarrollar una nueva solución que pudiera satisfacer estos requisitos, cuyo resultado es el nuevo reflectómetro de alta resolución AQ7420.
Hay dos modelos disponibles: de longitud de onda simple (1310 nm) y de doble longitud de onda (1310 y 1550 nm). También se ha lanzado un software de control para Windows 11, un cabezal sensor dedicado opcional para la medición de pérdidas, varios códigos maestros (compatibles con diversos tipos de conectores) y un código de ajuste de distancia para ajustar la posición inicial de medición.
Características Principales
Entre las principales novedades destaca la capacidad del AQ7420 para reducir el ruido espurio. Con los dispositivos convencionales basados en la tecnología OLCR/OFDR, el ruido espurio (fantasma) suele observarse en zonas en las que no hay reflexión real (dependiendo de las características del equipo), lo que da lugar a juicios erróneos. En tales situaciones, el análisis correcto de la forma de onda depende en gran medida de usuarios con conocimientos especializados. Por el contrario, el nuevo AQ7420 incorpora una tecnología que reduce en gran medida los ruidos espurios, siendo uno de sus atributos más destacados la facilidad de análisis.
Otra característica destacable es la posibilidad de medir simultáneamente la reflexión trasera y la pérdida por inserción. Los instrumentos OLCR/OFDR convencionales suelen ser incapaces de inspeccionar con precisión la cantidad de reflexión trasera debido a la escasa precisión de medición del eje vertical (cantidad de nivel de reflexión). El reflectómetro de alta resolución AQ7420 contrarresta este problema permitiendo la medición con una incertidumbre de ±3dB. Además, aprovechando el cabezal del sensor óptico, los usuarios pueden medir simultáneamente la pérdida de inserción con una incertidumbre de ±0,02dB.
Otra característica importante es la reducción del tiempo de medición. En comparación con el producto de la generación anterior (AQ7410), el tiempo de medición del nuevo reflectómetro de alta resolución AQ7420 es alrededor de un 50% más rápido, aproximadamente 6 segundos frente a los 12 segundos anteriores.
Principales Mercados Objetivo
– Empresas y organizaciones que realizan investigación en fotónica de silicio
– Fabricantes de líneas de producción de conectores y componentes ópticos
– Cualquier empresa dedicada al análisis de componentes ópticos defectuosos
Aplicaciones
– Detección de la cantidad y la ubicación de las reflexiones en el interior de conectores ópticos y módulos ópticos con gran precisión
– Visualización de microfisuras en el interior de conectores ópticos que no pueden verse mediante técnicas de medición de pérdidas
Más información
AQ7420 https://tmi.yokogawa.com/p/aq7420/
